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Hierarchische Simulation nanoelektronischer Systeme zur Beherrschung von Prozess-Schwankungen

Lithographie-Simulation für Mask-Aligner

Mobility Engineering for SiC Devices

Neue Methoden zum Entwurf von SoCs für kontrollierbare hohe Zuverlässigkeit für Anwendungen wie Transport, Medizin und Automatisierung.

Gemeinsame Presseinformation der Partner des Forschungsprojekts „RELY“
(EADS, Fraunhofer Gesellschaft, Infineon Technologies, MunEDA, Technische Universität München, Universität Bremen, X-FAB Semiconductor Foundries):

Erlangen Graduate School in Advanced Optical Technologies

Semiconductor Equipment Assessment Leveraging Innovation

Modeling, Control and Management of Thermal Effects in Electronic Circuits of the Future