Leistungselektronik – Öffentliche Vortragsreihe

Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB

Leistungselektronik - Öffentliche Vortragsreihe des Fraunhofer-Innovationsclusters "Elektronik für nachhaltige Energienutzung"
Themenschwerpunkt "Aufbautechnologien und Test"

Aufbau- und Verbindungstechnik in der LED-Welt

Dr. M. Knörr, Osram

Leuchtdioden sind aus Hochleistungsapplikationen wie Blitzlichter, Allgemeinbeleuchtung, Automobilscheinwerfer oder Projektoren nicht mehr weg zu denken. Damit ging ein großer Wandel der Aufbau- und Verbindungstechniken einher. Mittlerweile werden für Hochleistungs-LEDs ähnliche Verlustleistungsdichten wie in der Leistungselektronik erreicht. Aufgrund dessen gibt es einige Schnittmengen zwischen LED und Leistungselektronik, sowohl im grundlegenden Aufbau als auch in den verwendeten Technologien. Andererseits muss ein LED-Produkt möglichst effektiv Licht mit den richtigen Eigenschaften (Farbe, Helligkeit, Richtung,…) emittieren. Daraus resultieren zusätzliche Anforderungen an die Aufbau- und Verbindungstechnik.

Aktive Temperaturwechsel - Tests und Interpretation

Andreas Schletz, Fraunhofer IISB

Ein wesentlicher Test für die relative Lebensdauerbewertung von Aufbau- und Verbindungstechnologien für leistungselektronische Systeme ist die beschleunigte Alterung mit aktiven Temperaturwechseln (Power Cycling). Je nach Parameterwahl, Aufbautechnik der Prüflinge im Test, Eigenschaften der Testmuster und vor Allem der Auswertung und Interpretation der Messkurven lassen sich zum Teil stark unterschiedliche Lebensdauer-Werte für identische Aufbautechniken ermitteln. In diesem Umfeld soll der Vortrag einen Überblick über die Trennschärfe dieser Art von Zuverlässigkeitsbewertung geben.

Veranstaltungsort

Fraunhofer IISB

Datum

21.5.2012
17:15 Uhr