Treffen der GMM-Fachgruppe 1.2.6 "Prozesskontrolle, Inspektion & Analytik"

Vollautomatische, industrielle Röntgencharakterisierung innerhalb von 5 s pro Punkt
Nadine Schüler, Freiberg Instruments, Freiberg

Oberflächen- und Dünnschichtanalytik mit Röntgenspektrometrie
Burkhard Beckhoff, Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin

Analysen von Verunreinigungen in Polymerwerkstoffen mittels phys./chem. Sonderanalytik
Gerald Dallmann, SGS Institut Fresenius GmbH, Dresden

Dimensionelle und analytische Charakterisierung geordneter Nanostrukturen mittels Röntgenfluoreszenzanalyse
Philipp Hönicke, Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin

Metal Contamination Monitoring by TXRF Spectrometer - Appendix: Rigaku at a Glance
Martin Lentmaier, TELTEC Semiconductor Technic GmbH, Mainhardt

XPS als Dienstleistung – Potential und Fallstricke
René Beutner, SGS Institut Fresenius GmbH, Dresden

Elektrische Charakterisierung mittels MDP + SPV + THz-Strahlung
Nadine Schüler, Freiberg Instruments, Freiberg

Capabilities of the New XPS/HAXPES Scanning Microprobe
Jennifer Emara, Fraunhofer IPMS CNT, Dresden

XPS als Methode zur Charakterisierung von Graphen
Günther Ruhl, Technische Hochschule Deggendorf, Deggendorf